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原子力显微镜

2013/02/27 

主要技术指标包括:样品台尺寸,¢35mm,扫描范围,二维范围内最大值为20μm×20μm;最小值为10nm×10nm;表面粗糙度(表面最高点和最低点的垂直距离),最大值为2μm。
主要用于测量物体的微观表面形貌,配有普通接触式,普通敲击式和磁性敲击式三种探针,分别可进行AFM、DFM和MFM三种模式测量。其中接触式测量AFM,主要用于表面相对比较粗糙和硬度相对小的物体。磁性敲击式(MFM)在测试样品表面形貌的同时,还可以测出表面磁道或磁畴分布状况。
设备管理员:贺祯

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