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X射线荧光分析显微镜

2018/06/19  点击:[]

X射线荧光分析显微镜

仪器型号:XGT-7200V

仪器主要用途:可以快速、无损地对样品(固体、粉末、液体、多层镀膜等)的元素组成进行定性、定量分析,还可以通过面扫描功能获得样品的元素面分布图(扫描区域最大可达10 cm×10 cm)。仪器配备的双真空式设计可以在高灵敏度模式或大气氛围模式分析从Na到U的所有元素。可应用于地质矿物、电子电器、生物医药、环境、考古、法医等多个领域。

技术参数:

1.测量元素:Na—U;

2. X射线管:铑(Rh)靶/管电压50 kV /管电流1 mA;

3. X射线荧光检测器:SDD硅漂移检测器;

4.透过X射线检测器:NaI(Ti)晶体;

5. X射线导管:单毛细管10μm / 100μm无滤光片;

6.光学图像:样品整体光学像及共轴放大图像;

7.样品台尺寸:100 mm×100 mm(X×Y);

8.样品仓:全真空模式/最大真空300 mm×300 mm×80 mm;

9.样品尺寸:10μm2—10 cm2

10.信号处理:数值脉冲处理器(INCA处理器)。

设备管理员:王芬

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